현미경 및 미세 조직 분석

시험분석장비	장비별 상세주소	담당자	연락처
Particle Size Analyzer	315호 (N3)	유지은	042-860-7046
FE-TEM	316호 (N3)	이종배	042-860-7732
FE-SEM	310호 (N3)	조혜진	042-860-7735
Flat-Quad EDS
ED-FIB
Fs-laser
Cryo-FIB
Ion-milling
TEM	316호 (N3)
Cryo-TEM
Digital Video Microscope	303호 (N3)
WD-XRF	315호 (N3)	유지은	042-860-7046
Thin-film XRD
Micro X-ray CT Scanner	108-4호 (N5)	김아련	042-860-7778

분광 및 표면광학 특성

시험분석장비	장비별 상세주소	담당자	연락처
New mirco TRI-gloss	303호 (N3)	박성진	042-860-7703
Transmittance & Haze Meter
Colorimeter
XPS	315호 (N3)	유지은	042-860-7046
FIB-TOF/SIMS	310호 (N3)	조혜진 유지은	042-860-7735 042-860-7046
LED 공초점 현미경	303호 (N3)	신예진	042-860-7779
Stylus profiler
Atomic Force Microscope System

분광, 유기원소 및 열 분석

시험분석장비	장비별 상세주소	담당자	연락처
ESR	315호 (N3)	김아련	042-860-7778
O-PTIR	310호 (N3)	이경은	042-860-7616
O-PTIR-Raman	310호 (N3)	이경은	042-860-7616
Py-GC/MS	310호 (N3)	김아련	042-860-7778
TGA-GC/MS	310호 (N3)	이경은	042-860-7616
UV-Vis-NIR	310호 (N3)	박성진	042-860-7703
FT-IR	310호 (N3)	박성진	042-860-7703
Microscope/IR
GPC	310호 (N3)	권세이	042-860-7738

열특성분석

시험분석장비	장비별 상세주소	담당자	연락처
DSC	312호 (N3)	이경은	042-860-7616
TGA
TMA
DMA
Melt Flow Indexer	311호 (N3)	김민선	042-860-7730
Deflection Temperature Tester	311호 (N3)

가속열화특성

시험분석장비	장비별 상세주소	담당자	연락처
UV test	309호 (N3)	김민선	042-860-7730
촉진 내후성시험기	314호 (N3)	박성진	042-860-7703
초가속내후성시험기
항온항습 시험기	313호 (N3)
열충격시험기
Geer Aging Oven	314호 (N3)

기계적특성평가

시험분석장비	장비별 상세주소	담당자	연락처
Cryogenic Test Equipment	311호 (N3)	김민선	042-860-7730
Fatigue Tester	314호 (N3)
Fatigue Tester foe Adhesives	109호 (N5)
Universial Testing Machine	311호 (N3)
Izod impact tester	311호 (N3)
낙하 충격시험기	109호 (N5)
SAICAS	313호 (N3)	박성진	042-860-7703
IRHD 경도시험기	313호 (N3)

시편 제작 및 가공

시험분석장비	장비별 상세주소	담당자	연락처
Twin Extruder	109호 (N5)	신동오	042-860-7734
Molding Press
Injection Molding Machine	109호 (N5)	김민선	042-860-7730