보유장비
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High-speed Scanning Probe Microscopy초고속 주사탐침 현미경
- 담당자 신예진 / 042-860-7779
- 기기실 316호 (N3)
| 분석항목 | 분석료 |
|---|---|
| A | 이미지*30,000 |
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시료 정보
시료 상태 고체, 박막, 필름 등
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원리 및 특징
일반 AFM과 비교 시 최대 100배 빠른 속도 측정이 가능하기 때문에 고해상도 표면 형상 측정이 가능함.
대면적 샘플 로딩이 가능하여 측정 시료의 크기 제한이 없음. -
용도 및 활용분야
단일/복합 소재의 nm 단위 표면 형상 및 물리적 특성 측정
소재 내부 상전이 bead의 미세 상분리 표면 형상 관찰
Copolymer 내부 미세 구조분석, 점착력, 반발력 특성 분석
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보유장비 및 주요규격
제조사 Bruker 모델명 Dimension Fastscan/Icon X-Y scan range 35 μm X 35 μm or 90 μm X 90 μm Vertical range >3 μm or 10 μm Operating modes PeakForce Tapping, Nanomechanical mapping, Tapping mode(air and fluid), MFM, EFM.
