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보유장비

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Cs-TEM수차보정투과전자현미경

  • 담당자 김형중 / 042-860-7737 / kimhj@krict.re.kr
  • 기기실 106호 (N5)
분석항목 분석료
(S)TEM 400,000원/시간
  • 시료 정보

    시료 상태 고체

  • 원리 및 특징

    수차보정투과전자현미경은 가속된 전자빔을 관측 시료에 조사하여 시료와 전자빔 간의 상호작용에 의해 발생하는 다양한 시그널을 통해 시료의 형태, 결정구조, 원소분포, 전자구조 등을 분석하는 원리이며, 수차보정기 (Cs corrector)를 통해 원자단위의 구조분석이 가능하고, 나노, 반도체, 디스플레이, 바이오 등 다양한 분야의 물질 분석에 활용

  • 용도 및 활용분야

    재료의 표면 형상, 결정구조, 적층결함, 계면의 초 미세 표면구조분석, 원소분포, 전자구조 등 분석에 활용

  • 보유장비 및 주요규격

    제조사 ThermoFisher Scientific (US)
    모델명 Spectra300
    작동가속전압 30~300kV (200kV, 300kV 지원)
    해상도 TEM lattice resolution : 0.1 nm
    STEM image resolution (with probe Cs Corrector) :
    0.060 nm at 300 kV
    0.070 nm at 200 kV
    Super-X EDS detector
    Continuum ER/1065 EELS detector
    Ceta-S camera

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