보유장비
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Thin-film XRDX-선 형광분석기
- 담당자 유지은 / 042-860-7046
- 기기실 315호 (N3)
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시료 정보
시료 상태 파우더 및 고체 시료
시료 준비 최소 양 1g / 크기 1cm × 1cm
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원리 및 특징
고전압으로 하전된 전자가 금속 양극에 충돌하여 발생하는 단색 X-선을 결정질의 시료에 조사하여 회절되는 빔을 해석하여 결정구조 및 내부 구조 박막의 두께 등을 분석하는 장비
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용도 및 활용분야
결정 구조 분석
금속, 무기물, 중합체, 촉매, 플라스틱, 조제약, 박막 코팅, 세라믹등
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보유장비 및 주요규격
제조사 Bruker 모델명 D8 ADVANCE 주요 사양 High Voltage Range : 20 ~ 40 kV Current : 5 ~ 50 mA
