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보유장비

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Ion-milling이온밀링기

  • 담당자 조혜진 / 042-860-7735
  • 기기실 310호 (N3)
분석항목 분석료
Ion-milling 100,000/시간
HR-coating 20,000/시료
  • 시료 정보

    시료 상태 고체

  • 원리 및 특징

    Ar+ 이온 플라즈마를 이용하여 시편에 조사해 시편의 표면 및 단면을 식각하여 전자현미경 관찰이 가능한 시료 표면 제작

    - Polishing, Etching & Coating samples with a single pump down

    - Tune low energy milling from 100 eV to 8.0 keV to reduce amorphous layer and increase milling speed

    - Permit samples as large as 32 mm in diameter

  • 용도 및 활용분야

    SEM 관찰용 단면 시편 제작

    Polishing, Etching& HR coating

  • 보유장비 및 주요규격

    제조사 Gatan
    모델명 PECS II
    주요 사양 Operating temperature: -180 ~ 100 °C
    Ion source: Two sets of Penning type guns
    Beam angle: 0˚ ~ ± 18˚ in 0.1˚ increments
    Rotation: 1 ~ 6 rpm
    Beam power: 0.1 ~ 8.0 keV
    Bean density: 10 mA/cm2 per source

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