시료 상태 고체, 박막, 필름 등

AFM은 Probe tip의 끝을 샘플 표면에 근접시키면 끌어당기는 또는 밀어 내는 여러 가지 힘이 샘플 표면의 원자와 tip 끝의 원자 사이에 작용하는데 이 힘을 측정하여 샘플 표면의 삼차원 영상을 얻을 수 있음

탐침과 물체사이에 존재하는 물리적 상호작용과 표면의 형태를 nm단위의 극미세(원자 혹은 분자) 단위로 관찰

표면의 마찰력 자기장 전기장 혹은 전도성 등의 물리적/화학적 성질을 측정