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분석료 안내

      원외 분석료 안내

      분석항목 수수료 단가 (단위:원, 부가세 별도) 비고
      UV-VIS 40,000/시료
      DR-UV/VIS 50,000/시료
      FT-IR 40,000/시료
      Microscope/IR 80,000/시료 1시간 기준, 30,000원/1시간 추가
      O-PTIR 120,000/시료 1시간 기준, 30,000원/1시간 추가
      O-PTIR-Raman 120,000/시료 1시간 기준, 30,000원/1시간 추가
      ESR(스펙트럼) 60,000/시간
      ESR(UV조사) 70,000/시간
      Py-GC/MS(single shot) 30,000/시료 기본료 150,000
      Py-GC/MS(Double shot) 60,000/시료 기본료 150,000
      TGA-GCMS(Ar) 100,000/시간 50,000원/1시간 추가
      TGA-GCMS(He) 200,000/시간 100,000원/1시간 추가
      상온 GPC 40,000/시료 기본료 60,000
      WD-XRF(정성) 70,000/시료 전처리 30,000원/시료
      WD-XRF(정량) 70,000/시료 전처리 30,000원/시료
      XRD 60,000/시료
      DSC 40,000/시료 30분 기준, 10,000원/30분 추가
      TMA 40,000/시료 30분 기준, 10,000원/30분 추가, LN2 사용시 별도
      DTA 40,000/시료 30분 기준, 10,000원/30분 추가
      TGA 40,000/시료 30분 기준, 10,000원/30분 추가
      DMA 40,000/시료 기본료 80,000원 60분 기준, 20,000원/30분 추가
      용융유동지수(MI) 20,000/시료
      HDT 30,000/시료
      광학, 실체 10,000/시료
      LED 공초점현미경 30,000/시료
      Video Microscope 10,000/시료
      SEM/EDS FE-SEM 50,000/시료 추가매수당 20,000원
      Quad-EDS 110,000/시료 Mapping 분석
      EDS 60,000/시료
      STEM 50,000/시료 시료 재작비 별도
      Ion-milling 100,000/시간 단면시료 제작시 150,000추가 LN2 cooling
      HR-coating 20,000/시료
      생물시료전처리 150,000/시료
      μ-XRF 110,000/시료
      FIB Milling, Deposition,Imaging 200,000/시간
      EDS 성분분석 60,000/시료
      고속 Ion Milling 300,000/시료
      Cryo-Milling, Deposition, Imaging 400,000/시간
      PFIB 300,000/시간
      TOF-SIMS 150,000/시료 주장비(PFIB) 사용료 포함
      TEM 이미지관찰(TEM) 80,000/시간 기본 2장 추가매수당 10,000원
      이미지관찰(FE-TEM) 100,000/시간 기본 2장 추가매수당 10,000원
      STEM/EDS(FE-TEM) 50,000/시료
      TEM전처리 (그리드) 23,000/시료
      Freeze Plunger 500,000/2ea
      Cryo-TEM 120,000/시간
      TEM전처리 (Microtome(상온)) 130,000/시료
      TEM전처리 (Microtome(저온)) 180,000/시료
      TEM전처리 (Bulk 시료처리) 60,000/시료
      생물시료전처리 150,000/시료
      Negative staining 70,000/시료
      이중염색 20,000/시료
      투과전자현미경 실시간홀더(In-sity holder) 300,000/시간 나노칩 280,000 별도
      Mechanical TEM sample preparation 78,000/시간
      Cs-corrected TEM (S)TEM image 400,000/시간
      SPM(AFM) 30,000/회 Tip 120,000원 별도, 응용모드 100,000원/시간 별도
      알파스텝 30,000/시간
      XPS 원소분석 120,000/시료
      상태분석 30,000/원소
      특수분석 Depth profile (Ar sputtering) 100,000/시간 기본료 50,000/시료
      Depth profile (Ar+ ion cluster gun sputtering) 100,000/시간 기본료 100,000/시료
      Imaging XPS 100,000/시간 기본료 50,000/시료
      온도시험 추가 50,000/시간 기본료 150,000/시간
      UV Photoelectron Spectrometer 160,000/시료
      AES 분석 120,000/시료
      글로브박스 60,000/시료
      Micro X-ray CT 120,000/시간 Dragonfly S/W 분석료 별도
      50,000원/시간
      기어식 노화 6,000/시간 기본료 30,000
      열충격 10,000/시간 기본료 30,000
      항온항습 7,000/시간 기본료 30,000
      태양광 모사 환경 시험 14,000/시간
      내후성 Xenon-공동 500/(시간*홀더수) 표준홀더 기준(150X70mm)
      Xenon-단독 10,000/시간 홀더 68개 이내
      UV-공동 500/(시간*홀더수) 표준홀더 기준(300X75mm)
      UV-단독 5,000/시간
      초촉진(Metal) 10,000/(MJ/m^2) 홀더 8개 이내
      피로시험 25,000/시간
      인장강도 10,000/시료
      압축강도 10,000/시료
      전단강도 10,000/시료
      신장율 10,000/시료
      탄성율 10,000/시료
      굴곡강도 10,000/시료
      굴곡탄성율 10,000/시료
      인열강도 10,000/시료
      접착강도 10,000/시료
      충격강도(상온) 6,000/시료
      충격강도(저온) 50,000/시료
      Rockwell 경도 6,000/시료
      IRHD 경도 6,000/시료
      Shore 경도 6,000/시료
      표면특성시험기 Scratch 시험 40,000/시료 기본 2회
      Indentation 시험 80,000/시료 기본 4회
      회분(Ash) 20,000/시료
      광투과도, Haze 10,000/시료
      색차측정 10,000/시료
      광택도 6,000/시료
      압출성형 60,000/시간 250,000/day 기본료 50,000
      압축성형 20,000/시간 100,000/day 기본료 50,000
      사출성형 30,000/시간 200,000/day 기본료 50,000
      입도분포 30,000/시료 용매사용료 5,000원/건 별도
      접촉각 10,000/시료
      비중(수중치환) 15,000/시료
      시편제작료 10,000/시료
      환경응력균열 1,000/시간
      흡수율(24h) 25,000/시료
      박리강도 300,000/시료 기본료 500,000원(1일 최대 시료 개수:3)
      낙하충격시험 25,000/건
      영문성적서 10,000/건
      성적서 사본 3,000/건
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