Atomic Force Microscope System
원자현미경
3D 표면 이미지 , 상분리 이미지 분석
고체, 박막, 필름 등
신예진
042-860-7779 yjshin@krict.re.kr 316호 (N3)
Cryo-FIB
고성능 집속이온빔시스템
시료를 냉각시켜 SEM관찰 및 FIB 가공
고체화학물질
조혜진
042-860-7735 chj7735@krict.re.kr 310호 (N3)
고체
Cryo-TEM
투과 전자현미경
수용액 상태로 얼려서 투과전자현미경 관찰
수화 상태 입자
042-860-7735 chj7735@krict.re.kr 316호 (N3)
액체
Cs-TEM
수차보정투과전자현미경
시료의 형태, 결정구조, 원소분포, 전자구조 등을 분석
나노물질
김형중
042-860-7737 kimhj@krict.re.kr 106호 (N5)
FE-SEM
전계방사형 주사전자현미경
고분자 물질의 표면형상 분석
FE-TEM
고성능 성분분석 전계방사형 투과전자현미경
첨단화학소재의 초미세구조 영상정보 제공 및 화학조성 분석
다양한 융·복합 화학소재
이종배
042-860-7732 jblee@krict.re.kr 316호 (N3)
FIB
시료 표면 형상 구조 분석 및 TEM 시편 가공
FIB-TOF/SIMS
집속이온빔 이차질량분석기
집속이온빔을 이용한 시편가공 및 극미량 원소 분석
파우더 및 고체 시료
High resolution scanning electron microscope
초고분해능 주사전자현미경
시료 표면 및 단면 형상 관찰
042-860-7779 yjshin@krict.re.kr 103호 (N5)
High-speed Scanning Probe Microscopy
초고속 주사탐침 현미경
나노미터 단위의 표면 형상 및 물리적 특성 측정
LED Confocal Microscope
LED 공초점 현미경
2D & 3D 표면 이미지, 단차, roughness 측정
변아름
042-860-7607 albyeun@krict.re.kr 316호 (N3)
Micro Indentation & Scratch Tester
표면특성 시험기
표면 특성 평가
고분자, 플라스틱, 필름, 코팅 및 접착재료 등
정고운
042-860-7705 junggw@krict.re.kr 316호 (N3)
고분자, 플라스틱, 필름, 코팅 및 접착재료
Micro X-ray CT Scanner
엑스레이 단층 촬영 장비
Sub-micro 스케일의 3D 비파괴 분석
복합소재, 나노 및 기능소재, 배터리, 생체 등
042-860-7607 albyeun@krict.re.kr 108-4호 (N5)
생체, 바이오, 복합소재, 나노 및 기능소재 등
Particle Size Analyzer
입도분석기
입자크기의 분포도 분석
파우더 및 용매에 분산된 시료
유지은
042-860-7046 racyje@krict.re.kr 315호 (N3)
Stylus Profiler
접촉식 표면단차/두께 측정기
