Atomic Force Microscope System
원자현미경
3D 표면 이미지 , 상분리 이미지 분석
고체, 박막, 필름 등
신예진
042-860-7779 yjshin@krict.re.kr 316호 (N3)
Cryo-FIB
고성능 집속이온빔시스템
시료를 냉각시켜 SEM관찰 및 FIB 가공
고체화학물질
조혜진
042-860-7735 chj7735@krict.re.kr 310호 (N3)
고체
Cryo-TEM
투과 전자현미경
수용액 상태로 얼려서 투과전자현미경 관찰
수화 상태 입자
042-860-7735 chj7735@krict.re.kr 316호 (N3)
액체
Cryogenic Test Equipment
극저온 시험장비
소재의 극저온 인장/압축 시험
고분자 소재
김민선
042-860-7730 mskim@krict.re.kr 311호 (N3)
Cs-TEM
수차보정투과전자현미경
시료의 형태, 결정구조, 원소분포, 전자구조 등을 분석
나노물질
김형중
042-860-7737 kimhj@krict.re.kr 106호 (N5)
Deflection Temperature Tester
열변형온도 시험기
고분자 재료의 열변형온도 또는 연화점 측정
고분자 수지
042-860-7730 mskim@krict.re.kr 314호 (N3)
DMA
동적점탄성분석기
화학소재의 동적 점탄성 분석
고분자화합물
정원모 / 042-860-7738 / wmjoung@krict.re.kr이경은 / 042-860-7616 / lke0215@krict.re.kr
Drop Weight Impact Tester
낙하 충격 시험기
고분자 물질의 낙하 충격 에너지 평가
042-860-7730 mskim@krict.re.kr 109호 (N5)
DSC
시차주사열량계
불소계 고무를 비롯한 다양한 소재들에 대한 열적 특성 분석
유기화합물, 무기화합물, 고분자화합물
이경은
042-860-7616 lke0215@krict.re.kr 312호 (N3)
DTA
동시분석용 열분석기
고분자화합물, 유, 무기 하이브리드 소재, 탄소 및 카본나노소재 등
정원모 / 042-860-7738 / wmjoung@krict.re.kr<br>이경은 / 042-860-7616 / lke0215@krict.re.kr
ESR
전자스핀공명분광기
라디칼 또는 짝짓지 않은 전자를 가진 무기금속화합물의 화학종을 분석 / 고분자, 산화 및 환원 및 분자 여기 등 분석
김아련
042-860-7778 aryeon@krict.re.kr 304호 (N3)
고체, 액체
Fatigue Tester
피로시험기
소재의 온도 변화에 따른 피로 특성 시험
Fatigue Tester for Adhesives
접착 피로시험기
내피로성 시험
플라스틱, 필름 등
042-860-7730 mskim@krict.re.kr 1009호 (N5)
플라스틱, 필름
FE-SEM
전계방사형 주사전자현미경
고분자 물질의 표면형상 분석
FE-TEM
고성능 성분분석 전계방사형 투과전자현미경
첨단화학소재의 초미세구조 영상정보 제공 및 화학조성 분석
다양한 융·복합 화학소재
이종배
042-860-7732 jblee@krict.re.kr 316호 (N3)
FIB
시료 표면 형상 구조 분석 및 TEM 시편 가공
FIB-TOF/SIMS
집속이온빔 이차질량분석기
집속이온빔을 이용한 시편가공 및 극미량 원소 분석
파우더 및 고체 시료
FT-IR
감쇠전반사적외선분광기
고분자 시료의 정성/정량 분석
042-860-7778 aryeon@krict.re.kr 303호 (N3)
GPC
겔투과크로마토그래피
고분자 시료의 분자량 측정
이경은, 정원모
042-860-7616, 042-860-7738 lke0215@krict.re.kr 310호 (N3)
High resolution scanning electron microscope
초고분해능 주사전자현미경
시료 표면 및 단면 형상 관찰
042-860-7779 yjshin@krict.re.kr 103호 (N5)
High-speed Scanning Probe Microscopy
초고속 주사탐침 현미경
나노미터 단위의 표면 형상 및 물리적 특성 측정
Injection Molding Machine
사출 성형기
고분자 물질의 시험편 제작
Ion-milling
이온밀링기
고분자 물질의 단면 형태 분석
IRHD
경도시험기
IRHD 경도
고무
정고운
042-860-7705 junggw@krict.re.kr 312호 (N3)
Izod 충격 시험기
Izod Impact Tester
Izod 충격 시험
플라스틱
010-860-7730 mskim@krict.re.kr 311호 (N3)
LED Confocal Microscope
LED 공초점 현미경
2D & 3D 표면 이미지, 단차, roughness 측정
변아름
042-860-7607 albyeun@krict.re.kr 316호 (N3)
Melt Flow Indexer
용융유동지수 측정기
고분자 물질의 용융유동성 평가
고체 펠
Micro Compounding System
마이크로 컴파운딩 시스템
소량의 고분자 수지에 대한 정밀 컴파운딩
고분자 수지 및 첨가제
042-860-7730 mskim@krict.re.kr 313호 (N3)
Micro Indentation & Scratch Tester
표면특성 시험기
표면 특성 평가
고분자, 플라스틱, 필름, 코팅 및 접착재료 등
042-860-7705 junggw@krict.re.kr 316호 (N3)
고분자, 플라스틱, 필름, 코팅 및 접착재료
Micro X-ray CT Scanner
엑스레이 단층 촬영 장비
Sub-micro 스케일의 3D 비파괴 분석
복합소재, 나노 및 기능소재, 배터리, 생체 등
042-860-7607 albyeun@krict.re.kr 108-4호 (N5)
생체, 바이오, 복합소재, 나노 및 기능소재 등
Microscope/IR
현미적외선분광기
재질분석, 첨가제 성분분석, 미소샘플 분석, 이물분석 등
Molding Press
압축 성형기
New mirco TRI-gloss
광택 측정기
광택도 측정
박성진
042-860-7703 sjpak@krict.re.kr 313호 (N3)
O-PTIR
광열 적외선 분광기
화학구조분석, 불순물분석, 오염분석, 이물분석
042-860-7616 lke0215@krict.re.kr 310호 (N3)
Particle Size Analyzer
입도분석기
입자크기의 분포도 분석
파우더 및 용매에 분산된 시료
유지은
042-860-7046 racyje@krict.re.kr 315호 (N3)
Py-GC/MS
열분해-기체크로마토그래피/질량분석기
조성물 정성분석 및 고분자 열분해 분석
유기화합물, 고분자화합물
042-860-7778 aryeon@krict.re.kr 301호 (N3)
Solar Simulation Chamber
태양광 모사 시험기
내환경 시험
고분자, 플라스틱, 고무, 필름 등
042-860-7705 junggw@krict.re.kr 313호 (N3)
고분자, 플라스틱, 고무, 필름
Spectrophotometer
색차계
색차(황변) 측정
플라스틱, 필름. 액상 시료 등
Stylus Pofiler
접촉식 표면단차/두께 측정기
Surface and Interfacial Cutting Analysis System (SAICAS)
박막계면평가시스템
다층 코팅박막의 표면.계면에 대한 물성측정 이물분석 및 화학구조분석을 위한 전처리
적층박막재료, 코팅필름 등
TEM
시료 내부 구조 분석
Temperature &amp;amp; Humidity Chamber
항온항습시험기
고분자, 플라스틱, 금속, 필름 등
TGA
열중량분석기
재료의 열안정성 및 구성비 등 열특성 측정
TGA-GCMS
열중량-기체크로마토그래피/질량분석기
탄성소재, 복합소재, 미지시료, 기화가 어려운 샘플의 아웃가스 등의 분석
Thermal Shock Chamber
열충격시험기
열충격 시험
고분자, 플라스틱, 금속, 필름
Thin-film XRD
X-선 형광분석기
시료의 결정구조 분석
고체, 분말, 박막, 다결정 및 단결정 등 다양한 형태의 시료
TMA
열기계분석기
고분자 물질의 열팽창계수 측정
Twin Extruder
압출시험기
Universal Testing Machine
만능 재료 시험기
고분자 재료에 대한 물성 평가
UV Tester
자외선 시험기
자외선 시험
고분자, 플라스틱, 고무 소재 등
042-860-7730 mskim@krict.re.kr 309호 (N3)
WD-XRF (2025년 지원예정)
시료에 포함된 원소의 정성 · 정량 분석
산업용 화학소재, 화합물, 금속재료, 복합소재 등
Weather-o-Meter
촉진 내후성시험기
내후성 시험
010-860-7703 sjpak@krict.re.kr 002호 (N4)
Weather-o-Meter for high acceleration
초가속내후성시험기
초가속 내후성 시험
042-860-7703 sjpak@krict.re.kr 002호 (N4)
XPS
X-선 광전자분광기
도체 소재, 박막, 금속, 화합물, 유리, 촉매, 고분자 및 나노 소재 등
광투과도 & 혼탁도 측정장치
Transmittance & Haze Meter
투과도, 혼탁도 측정
기어식 노화
Thermal Aging Chamber (Geer Aging Type)
가속 열화 시험
042-860-7705 junggw@krict.re.kr 314호 (N3)
UV-VIS/NIR Spectrophotometer
고체, 액체 시료의 투과율, 흡광도, 반사도(정반사 및 확산반사) 측정
