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| 분석항목 | 분석료 |
|---|---|
| Ion-milling | 100,000/시간 |
| HR-coating | 20,000/시료 |
시료 상태 고체
Ar+ 이온 플라즈마를 이용하여 시편에 조사해 시편의 표면 및 단면을 식각하여 전자현미경 관찰이 가능한 시료 표면 제작
- Polishing, Etching & Coating samples with a single pump down
- Tune low energy milling from 100 eV to 8.0 keV to reduce amorphous layer and increase milling speed
- Permit samples as large as 32 mm in diameter
SEM 관찰용 단면 시편 제작
Polishing, Etching& HR coating
| 제조사 | Gatan |
|---|---|
| 모델명 | PECS II |
| 주요 사양 | Operating temperature: -180 ~ 100 °C |
| Ion source: Two sets of Penning type guns | |
| Beam angle: 0˚ ~ ± 18˚ in 0.1˚ increments | |
| Rotation: 1 ~ 6 rpm | |
| Beam power: 0.1 ~ 8.0 keV | |
| Bean density: 10 mA/cm2 per source |